Спектрометр отражения для измерения толщины тонких плёнок

Name: Спектрометр отражения для измерения толщины тонких плёнок
SKU: 516-721

Спектрометр отражения предназначен для измерения толщины тонких плёнок в диапазоне от 15 нм до 50 мкм. Габаритные размеры прибора составляют 205 мм по длине, 250 мм по ширине и 105 мм по высоте. ^*

*) Описание товара приведено в редакции, предоставленной иностранным производителем. Инженеры отдела 91Т уже запланировали техническую и эстетическую редактуру. В скором времени мы проверим технические нюансы, уточним характеристики и терминологию и доработаем текст, чтобы описание ЕШИ-89(4С) отвечало на большинство вопросов, а его назначение, возможности и область применения были понятны и доступны. Если вопрос актуален сейчас — просто задайте его нам.

Наименование производителя

Reflectance Spectrometer for Thin Film Thickness 15nm-50μm - TFMS-LD

Задать вопрос Искать на Baidu

Какую задачу решает спектрометр отражения

Спектрометр отражения используют как измерительный прибор для определения толщины тонких плёнок.

Характеристики ЕШИ-89(4С)

Модель (по базе 91Т)ЕШИ-89(4С)

Материалмонитор толщины плёнки

Размер205 мм (длина) × 250 мм (ширина) × 105 мм (высота)

Спектрометр отражения - гибкость поставки.
Мы осознаём, что у каждого проекта свои особенности. В связи с этим мы можем обсудить изменение технических характеристик, типоразмеров и комплектации ЕШИ-89(4С) под условия эксплуатации (на мощностях оригинального производителя или нашего завода в России).

Дата последней проверки актуальности данных: 26.09.26

Данные о производителе и характеристиках проверены.